Máy nhiễu xạ tia X mẫu bột
Thông số cơ bản
| Tiêu chuẩn: | Phương pháp nhiễu xạ tia X (XRD) mẫu bột; áp dụng theo tiêu chuẩn hoặc quy trình phân tích phù hợp với từng loại vật liệu |
| Ứng dụng: | Phân tích pha tinh thể, nghiên cứu cấu trúc vật liệu, kiểm tra mẫu bột, vật liệu vô cơ, khoáng sản, gốm và nghiên cứu R&D |
| Công nghệ phân tích: | Nhiễu xạ tia X mẫu bột (Powder XRD), hình học truyền qua Debye-Scherrer và phản xạ Bragg-Brentano; hỗ trợ bức xạ Kα1 đơn sắc và đầu dò MYTHEN2 R |
| Nhà cung cấp: | STOE & Cie GmbH – Đức |
| Model: | STADI P, STADI MP. PM điều khiển và xử lý dữ liệu: WinXPOW |
- Máy nhiễu xạ tia X mẫu bột STADI P và STADI MP được thiết kế cho phân tích pha tinh thể và nghiên cứu cấu trúc vật liệu.
- Hệ thống hỗ trợ nhiều hình học đo, nguồn tia X và đầu dò tùy theo cấu hình.
- Phần mềm WinXPOW tích hợp chức năng điều khiển thiết bị, thu thập và xử lý dữ liệu nhiễu xạ.
- Thiết bị phù hợp cho phòng thí nghiệm nghiên cứu, phân tích vật liệu và R&D.
Công Ty TNHH Beta Technology chịu trách nhiệm phân phối chính hãng, mọi thắc mắc xin liên hệ số điện thoại 0903.042.747 hoặc email sales@betatechco.com để được hỗ trợ!
MÁY NHIỄU XẠ TIA X MẪU BỘT

Máy nhiễu xạ tia X mẫu bột là gì?
- Máy nhiễu xạ tia X mẫu bột là thiết bị phân tích vật liệu bằng cách ghi nhận các tia X bị nhiễu xạ khi chiếu vào mẫu.
- Dữ liệu thu được giúp xác định pha tinh thể, nghiên cứu cấu trúc và đánh giá đặc tính của vật liệu.
- STOE & Cie GmbH là nhà sản xuất thiết bị nhiễu xạ tia X đến từ Đức.
- Hãng phát triển các hệ thống XRD mẫu bột với nhiều cấu hình đo và phụ kiện phục vụ nghiên cứu vật liệu.
- Hai model tiêu biểu trong nhóm này là STADI P và STADI MP.
- Cả hai sử dụng phần mềm WinXPOW để điều khiển thiết bị, thu thập và xử lý dữ liệu nhiễu xạ.
- STADI P và STADI MP là hai hệ thống XRD mẫu bột dành cho phòng thí nghiệm nghiên cứu, phân tích vật liệu và R&D.
- Thiết bị hỗ trợ nhiều cấu hình đo, nguồn tia X và đầu dò tùy theo yêu cầu ứng dụng.
Máy nhiễu xạ tia X mẫu bột STADI P
- STADI P là hệ thống nhiễu xạ bột độ chính xác cao, sử dụng goniometer hai vòng.
- Thiết bị có thể lắp theo phương ngang hoặc phương đứng, với cấu hình truyền qua Debye-Scherrer hoặc phản xạ Bragg-Brentano.

Đặc điểm chính của STADI P:
- Hỗ trợ bức xạ Kα1 đơn sắc với các nguồn Co, Cu, Mo hoặc Ag.
- Tương thích nhiều đầu dò đếm photon đơn, gồm đầu dò dải silic MYTHEN2 R.
- Phù hợp với mẫu nhạy khí, nhạy ẩm và mẫu có lượng nhỏ.
- Có thể trang bị phụ kiện gia nhiệt hoặc làm lạnh.
- Hỗ trợ đo PDF (Pair Distribution Function) trong phòng thí nghiệm với cấu hình phù hợp.
- Tùy chọn công nghệ ADAMAnT để tự động căn chỉnh monochromator và trục goniometer trên cấu hình tương thích.
Máy nhiễu xạ tia X mẫu bột STADI MP
STADI MP kết hợp nhiều hình học đo trên một goniometer, gồm truyền qua Debye-Scherrer, Bragg-Brentano và cấu hình thông lượng cao/vi nhiễu xạ.


Đặc điểm chính của STADI MP:
- Chuyển đổi hình học đo bằng cơ cấu trượt vỏ ống tia X.
- Sử dụng chung quang học tia X kiểu Johann cho các hình học được hỗ trợ.
- Không cần thay bộ quang học hoặc căn chỉnh lại khi chuyển đổi giữa các cấu hình này.
- Hỗ trợ bức xạ Kα1 đơn sắc từ nguồn Co, Cu, Mo hoặc Ag.
- Có thể trang bị phụ kiện nhiệt độ cao, nhiệt độ thấp, buồng phản ứng và các loại bàn mẫu.
Công nghệ máy nhiễu xạ tia X mẫu bột
- XRD (X-ray Diffraction) là phương pháp phân tích dựa trên hiện tượng nhiễu xạ tia X từ các mặt phẳng mạng tinh thể.
- Vị trí và cường độ các đỉnh nhiễu xạ tạo thành giản đồ đặc trưng của mẫu.
Công nghệ nhiễu xạ tia X mẫu bột truyền qua
- Ở hình học truyền qua, tia X đi qua mẫu và tín hiệu nhiễu xạ được ghi nhận bởi đầu dò. Cấu hình Debye-Scherrer thường sử dụng mẫu bột được nạp trong mao quản.
- Phương pháp này phù hợp với các phép đo yêu cầu chất lượng dữ liệu cao, mẫu lượng nhỏ hoặc mẫu nhạy với không khí và độ ẩm khi được chuẩn bị trong mao quản kín phù hợp.
Công nghệ nhiễu xạ tia X mẫu bột phản xạ
- Ở hình học Bragg-Brentano, tia X chiếu lên bề mặt mẫu và tín hiệu nhiễu xạ được thu theo hình học phản xạ. Cấu hình này thường được sử dụng trong phân tích mẫu bột dạng phẳng.
- STADI P và STADI MP có thể được cấu hình cho phép đo phản xạ hoặc truyền qua theo yêu cầu ứng dụng.
Công nghệ bức xạ Kα1 đơn sắc và đầu dò MYTHEN2
- Các hệ thống hỗ trợ sử dụng bức xạ Kα1 đơn sắc từ những nguồn tia X phù hợp. Đầu dò dải silic MYTHEN2 R là một trong các lựa chọn đầu dò của dòng thiết bị.
- Việc lựa chọn nguồn tia X, đầu dò và hình học đo cần căn cứ vào thành phần mẫu, mức hấp thụ, lượng mẫu và mục tiêu phân tích.
Ứng dụng máy nhiễu xạ tia X mẫu bột
- Máy XRD mẫu bột được sử dụng trong nghiên cứu và kiểm tra vật liệu tinh thể.
- Phạm vi ứng dụng cụ thể phụ thuộc vào cấu hình thiết bị, chuẩn bị mẫu và phương pháp xử lý dữ liệu.
Phân tích pha tinh thể bằng máy nhiễu xạ tia X mẫu bột
- Giản đồ nhiễu xạ có thể được sử dụng để nhận diện các pha tinh thể trong mẫu bằng cách so sánh với dữ liệu tham chiếu phù hợp.
- Phương pháp này được ứng dụng trong nghiên cứu vật liệu, hóa chất, khoáng sản, gốm và vật liệu vô cơ.
Nghiên cứu cấu trúc và đặc tính vật liệu
- Dữ liệu XRD hỗ trợ nghiên cứu cấu trúc tinh thể, thông số mạng và sự thay đổi pha trong vật liệu.
- Khi kết hợp với phương pháp xử lý phù hợp, dữ liệu có thể được sử dụng cho phân tích định lượng pha, kích thước miền tinh thể hoặc ứng suất vi mô.
Phân tích mẫu nhạy khí, nhạy ẩm và vi mẫu
- Với cấu hình mao quản và phụ kiện phù hợp, STADI P và STADI MP có thể phục vụ phép đo các mẫu nhạy với môi trường hoặc có lượng mẫu nhỏ.
- Việc chuẩn bị mẫu cần tuân theo quy trình phù hợp với đặc tính vật liệu.
Nghiên cứu vật liệu theo nhiệt độ
- Các phụ kiện gia nhiệt và làm lạnh cho phép khảo sát sự thay đổi giản đồ nhiễu xạ theo nhiệt độ.
- Ứng dụng có thể bao gồm nghiên cứu chuyển pha, phản ứng trạng thái rắn và biến đổi cấu trúc vật liệu.
Tiêu chuẩn và phương pháp
- Nhiễu xạ tia X là một kỹ thuật phân tích được sử dụng trong nhiều phương pháp thử và quy trình nghiên cứu.
- Việc lựa chọn tiêu chuẩn ASTM, ISO, EN hoặc phương pháp nội bộ cần dựa trên loại vật liệu, mục tiêu phép thử và yêu cầu của phòng thí nghiệm.
- Các phương pháp phân tích thường gặp gồm:
- Thu thập và đánh giá giản đồ nhiễu xạ tia X.
- Nhận diện pha tinh thể bằng phương pháp so sánh dữ liệu tham chiếu.
- Phân tích định lượng pha khi có phương pháp và dữ liệu phù hợp.
- Tinh chỉnh cấu trúc bằng phương pháp Rietveld với phần mềm tương thích.
- Nghiên cứu cấu trúc và biến đổi pha theo điều kiện đo.
Phần mềm WinXPOW cho máy nhiễu xạ tia X mẫu bột
- WinXPOW là phần mềm nhiễu xạ bột của STOE, được phát triển để điều khiển thiết bị, thu thập và xử lý dữ liệu.
- Phần mềm hỗ trợ dòng STADI P và các hệ thống nhiễu xạ bột tương thích.
Tính năng phần mềm WinXPOW
- Cấu hình và điều khiển máy nhiễu xạ.
- Thu thập dữ liệu và hiệu chuẩn đầu dò.
- Điều khiển nhiệt độ khi kết nối phụ kiện tương thích.
- Hiển thị và xử lý giản đồ nhiễu xạ.
- Tìm đỉnh, làm trơn và hiệu chỉnh đường nền.
- Xử lý dữ liệu thô, nhập và xuất dữ liệu.
- Khớp biên dạng, đánh chỉ số và tinh chỉnh thông số mạng.
- Phân tích kích thước/ứng suất vi mô và độ kết tinh với các công cụ phù hợp.
- Tùy chọn hỗ trợ yêu cầu CFR 21 Part 11 trong môi trường GMP.
Thông số kỹ thuật
| Thông số kỹ thuật | Model: STADI P | Model: STADI MP |
| Loại thiết bị | Máy nhiễu xạ tia X mẫu bột | Máy nhiễu xạ tia X mẫu bột đa hình học |
| Goniometer | Hai vòng | Hai vòng |
| Góc đo 2θ | 0° đến 140° | -10° đến +140°, tùy hình học đo |
| Bán kính vòng đo | 260 mm | 140–573 mm, tùy cấu hình |
| Hình học đo | Truyền qua Debye-Scherrer; phản xạ Bragg-Brentano | Truyền qua Debye-Scherrer; phản xạ Bragg-Brentano; High Flux/vi nhiễu xạ |
| Nguồn tia X | Co, Cu, Mo, Ag | Co, Cu, Mo, Ag |
| Bức xạ | Kα1 đơn sắc | Kα1 đơn sắc |
| Đầu dò | MYTHEN2 R 1K/2K/3K/4K, tùy cấu hình | MYTHEN2 R, tùy cấu hình |
| Quang học tia X | Cấu hình quang học tùy ứng dụng | Quang học kiểu Johann dùng chung cho các hình học đo được hỗ trợ |
| Phần mềm điều khiển và xử lý dữ liệu | WinXPOW | WinXPOW |
| Khối lượng hệ thống | 780 kg, tùy cấu hình | 870 kg, tùy cấu hình |
| Kích thước (bao gồm tủ máy) | 1800 × 880 × 2050 mm | 1800 × 880 × 2050 mm |
Tham khảo thêm: