Máy XRD Phân Tích Nhiều Mẫu Tự Động – STADI P COMBI

máy XRD phân tích nhiều mẫu

Máy XRD phân tích nhiều mẫu STADI P COMBI là hệ thống nhiễu xạ tia X mẫu bột được phát triển bởi STOE & Cie GmbH (Đức). Thiết bị chuyên dùng cho phân tích thông lượng cao (High-Throughput Analysis), hỗ trợ tối đa 96 vị trí mẫu và vận hành đo tự động bằng phần mềm.

STADI P COMBI sử dụng công nghệ nhiễu xạ tia X dạng truyền qua (Transmission XRD), kết hợp nguồn tia X đơn sắc Kα₁ và đầu dò MYTHEN2 R 1K. Hệ thống cho phép xác định pha tinh thể, so sánh đặc điểm nhiễu xạ và đánh giá sự khác biệt giữa nhiều mẫu vật liệu.

Với khả năng tự động hóa quá trình đo, STADI P COMBI là giải pháp phù hợp cho các phòng thí nghiệm nghiên cứu vật liệu, phát triển sản phẩm và kiểm soát chất lượng.

1. Giới thiệu máy XRD phân tích nhiều mẫu STADI P COMBI

STADI P COMBI được STOE phát triển dựa trên nền tảng máy nhiễu xạ tia X mẫu bột STADI P. Điểm khác biệt nổi bật là hệ thống bàn mẫu x-y điều khiển tự động, được thiết kế cho các phép đo nhiều mẫu liên tiếp.

Thiết bị hỗ trợ khay chứa tối đa 96 mẫu và cho phép tùy chỉnh lưới tọa độ x-y. Người vận hành có thể thiết lập các vị trí đo, sau đó sử dụng phần mềm để điều khiển quá trình thu thập dữ liệu.

Công nghệ này đặc biệt hữu ích khi cần khảo sát nhiều công thức vật liệu hoặc so sánh kết quả giữa các mẫu trong cùng một nghiên cứu.

Ưu điểm nổi bật của STADI P COMBI:

Phân tích tối đa 96 mẫu: Khay mẫu hỗ trợ đo tuần tự nhiều mẫu trong một loạt phép đo.
Tự động hóa quá trình đo: Bàn mẫu x-y được điều khiển bằng phần mềm, giảm thao tác định vị thủ công.
Phân tích pha tinh thể: Hỗ trợ nhận dạng và so sánh pha vật liệu thông qua phổ nhiễu xạ XRD.
Nguồn tia X đơn sắc: Sử dụng bức xạ Kα₁ từ các nguồn Co, Cu, Mo hoặc Ag.
Đầu dò MYTHEN2 R 1K: Thu nhận tín hiệu nhiễu xạ bằng công nghệ đầu dò dải silicon.
Phần mềm WinXPOW: Hỗ trợ điều khiển, xử lý dữ liệu và đánh giá kết quả phân tích.

2. Công nghệ phân tích của máy XRD STADI P COMBI

Công nghệ nhiễu xạ tia X dạng truyền qua

STADI P COMBI hoạt động dựa trên nguyên lý nhiễu xạ tia X mẫu bột theo hình học truyền qua (Transmission Geometry).

Chùm tia X chiếu qua mẫu vật liệu và tương tác với cấu trúc tinh thể. Các tia nhiễu xạ được đầu dò ghi nhận để tạo thành giản đồ XRD.

Thông qua vị trí và cường độ các đỉnh nhiễu xạ, người dùng có thể nhận dạng pha tinh thể và so sánh sự khác biệt giữa các mẫu.

Hình học truyền qua giúp giảm một số ảnh hưởng liên quan đến sự dịch chuyển chiều cao mẫu và định hướng ưu tiên của hạt tinh thể. Đây là một ưu điểm quan trọng trong nghiên cứu vật liệu dạng bột.

Hệ thống phân tích nhiều mẫu tự động

STADI P COMBI tích hợp bàn mẫu dịch chuyển theo hai trục x-y, hỗ trợ nhiều loại khay mẫu và vị trí đo khác nhau.

Hệ thống được thiết kế để tối ưu quá trình đo thông lượng cao:

Khay chứa tối đa 96 vị trí mẫu.
Lưới tọa độ x-y có thể tùy chỉnh.
Tự động định vị mẫu theo chương trình đo.
Hỗ trợ thực hiện phép đo theo lô (Batch Measurement).
Phân tích và so sánh kết quả giữa nhiều mẫu vật liệu.

Nhờ đó, người vận hành có thể tổ chức các phép đo liên tiếp mà không cần thay mẫu thủ công sau mỗi lần đo.

3. Đặc điểm nổi bật của máy XRD STADI P COMBI

Khay chứa tối đa 96 mẫu

Hệ thống khay mẫu được thiết kế cho ứng dụng phân tích thông lượng cao. Các vị trí mẫu được bố trí theo lưới tọa độ xác định và điều khiển bằng phần mềm.

Người dùng có thể lựa chọn cấu hình khay phù hợp với số lượng mẫu và mục đích thí nghiệm.

Thiết kế này đặc biệt hữu ích khi cần đánh giá hàng loạt mẫu vật liệu có thành phần hoặc điều kiện chế tạo khác nhau.

Nguồn tia X đơn sắc Kα₁

STADI P COMBI sử dụng hệ quang học với bộ đơn sắc sơ cấp (Primary Monochromator), tạo bức xạ Kα₁ đơn sắc.

Thiết bị hỗ trợ các lựa chọn nguồn tia X Co, Cu, Mo hoặc Ag, tùy theo cấu hình.

Việc lựa chọn nguồn tia X phù hợp giúp tối ưu điều kiện đo cho từng loại vật liệu và yêu cầu phân tích.

Đầu dò MYTHEN2 R 1K

Thiết bị được trang bị đầu dò dải silicon MYTHEN2 R 1K, sử dụng để ghi nhận tín hiệu nhiễu xạ tia X.

Đầu dò hỗ trợ thu thập dữ liệu với độ phân giải góc phù hợp cho các ứng dụng phân tích pha tinh thể và so sánh giản đồ nhiễu xạ.

Khi kết hợp với hệ thống đo tự động, đầu dò giúp nâng cao hiệu quả thu thập dữ liệu trong quá trình phân tích nhiều mẫu.

Thiết kế tối ưu cho phân tích thông lượng cao

STADI P COMBI được phát triển để thực hiện các phép đo tổ hợp (Combinatorial Measurements).

Đây là phương pháp nghiên cứu nhiều mẫu có thành phần hoặc điều kiện tổng hợp khác nhau trong cùng một chương trình phân tích.

Hệ thống cho phép so sánh các giản đồ nhiễu xạ để đánh giá sự hình thành pha, sự thay đổi cấu trúc tinh thể và tính tương đồng giữa các mẫu.

4. Phần mềm điều khiển và phân tích WinXPOW

Máy XRD STADI P COMBI sử dụng phần mềm chuyên dụng WinXPOW do STOE phát triển.

Phần mềm hỗ trợ điều khiển thiết bị, thiết lập phép đo, thu thập dữ liệu và xử lý kết quả phân tích.

Các chức năng chính:

Điều khiển máy nhiễu xạ tia X và hệ thống định vị mẫu.
Thiết lập và quản lý các chương trình đo.
Thu thập, lưu trữ và xuất dữ liệu XRD.
Tìm kiếm đỉnh nhiễu xạ và loại trừ nền.
Phân tích, so sánh giản đồ nhiễu xạ giữa các mẫu.
Phân tích biên dạng đỉnh (Profile Fitting).
Lập chỉ số nhiễu xạ (Pattern Indexing).
Xác định và tinh chỉnh thông số mạng tinh thể.
Hiển thị kết quả bằng đồ họa 2D và 3D.

Ngoài ra, WinXPOW có các chức năng hỗ trợ phân tích thông lượng cao, bao gồm nhận dạng pha, kiểm tra độ tương đồng và đánh giá cường độ nhiễu xạ trên nhiều vị trí mẫu.

5. Các ứng dụng của máy XRD phân tích nhiều mẫu

Nghiên cứu và phát triển vật liệu mới

STADI P COMBI hỗ trợ nghiên cứu các hệ vật liệu có nhiều công thức thành phần khác nhau.

Thiết bị cho phép đo và so sánh giản đồ XRD của nhiều mẫu, giúp xác định sự thay đổi pha tinh thể trong quá trình phát triển vật liệu.

Ứng dụng trong nghiên cứu vật liệu vô cơ, vật liệu chức năng, vật liệu năng lượng và các hợp chất tinh thể.

Phân tích pha tinh thể và so sánh vật liệu

Máy XRD hỗ trợ nhận dạng pha tinh thể dựa trên vị trí và cường độ đỉnh nhiễu xạ.

Khi phân tích nhiều mẫu, người dùng có thể so sánh kết quả để phát hiện sự xuất hiện hoặc biến mất của các pha tinh thể.

Điều này hữu ích trong đánh giá ảnh hưởng của thành phần nguyên liệu và điều kiện tổng hợp đến cấu trúc vật liệu.

Nghiên cứu vật liệu pin và năng lượng

STADI P COMBI có thể ứng dụng trong nghiên cứu các loại vật liệu điện cực, vật liệu lưu trữ năng lượng và hợp chất vô cơ.

Khả năng phân tích nhiều mẫu giúp hỗ trợ sàng lọc các công thức vật liệu và đánh giá sự khác biệt về cấu trúc tinh thể.

Nghiên cứu xúc tác và vật liệu hóa học

Thiết bị phù hợp cho các nghiên cứu cần so sánh nhiều hệ xúc tác hoặc vật liệu có thành phần khác nhau.

Kết quả XRD hỗ trợ nhận dạng pha tinh thể, theo dõi biến đổi cấu trúc và đánh giá ảnh hưởng của quá trình xử lý vật liệu.

Kiểm soát chất lượng và phát triển sản phẩm

Trong hoạt động R&D/QC, STADI P COMBI hỗ trợ phân tích nhiều mẫu theo cùng điều kiện đo.

Thiết bị có thể sử dụng để so sánh cấu trúc tinh thể giữa các lô vật liệu, kiểm tra sự đồng nhất về thành phần pha và phục vụ phát triển sản phẩm.

6. Thông số kỹ thuật máy XRD STADI P COMBI

Thông số kỹ thuật	Giá trị
Model	STADI P COMBI
Hãng sản xuất	STOE & Cie GmbH – Đức
Phương pháp phân tích	Powder X-ray Diffraction (PXRD)
Hình học đo	Transmission Geometry
Số vị trí mẫu	Tối đa 96
Hệ thống bàn mẫu	Motorized x-y Stage
Lưới tọa độ mẫu	User-definable x-y Grid
Dải góc 2θ	0° – 140°
Goniometer	2-circle
Bán kính vòng đo	260 mm
Bán kính vòng hội tụ	160 mm
Nguồn tia X	Sealed Tubes: Co, Cu, Mo, Ag
Hệ quang học	Primary Monochromator
Bức xạ tia X	Pure Kα₁
Đầu dò	Silicon Strip Detector MYTHEN2 R 1K
Phần mềm	WinXPOW
Kích thước tối đa (bao gồm tủ hệ thống)	1100 × 880 × 2050 mm
Khối lượng toàn hệ thống	650 kg

* Thông số kỹ thuật sẽ thay đổi theo cấu hình cung cấp

Tham khảo thêm:

Tiêu chuẩn:	Powder XRD (PXRD)
Ứng dụng:	Phân tích pha tinh thể, nghiên cứu vật liệu, sàng lọc mẫu, R&D/QC
Công nghệ phân tích:	Nhiễu xạ tia X mẫu bột (Powder XRD), hình học truyền qua
Nhà cung cấp:	STOE & Cie GmbH - Đức
Model:	STADI P COMBI

máy XRD phân tích nhiều mẫu